万博ANSYS的博客
2018年9月4日
物联网和消费电子产品天线设计中如何降低射频干扰
为物联网(IoT)设计消费电子产品的工程师并不容易。随着这些设备变得越来越小，它们增加了射频干扰(RFI)的可能性。这些RFI信号可能会使天线设计复杂化。
由于没有统一的无线通信协议，似乎每个物联网设备都必须兼容Wi-Fi、蓝牙、ZigBee和5G。
容纳所有这些协议意味着将天线、收发器、数据源和电子元件塞进一个微小的电路设计中。
每一个组成部分都在这个小空间内争夺电波。即使是与连接无关的电子元件也会泄露RFI信号。
当非信道和非技术RFI信号到达接收机时，它们会降低接收机的灵敏度。这被称为接收器去敏化。
随着通信协议数量的增加和电路设计空间的减少，对这种干扰的测试变得成本和时间都令人望而却步。
幸运的是，工程师可以使用信号完整性、电磁、电路和射频系统级模拟来模拟RFI干扰。这些模拟可以帮助工程师确保他们的高质量产品在预算内按时上架。万博网
物联网和消费电子产品继续变得越来越小。这可能导致接收机由于RFI干扰去敏化。
如何在物联网和消费电子产品中建模RFI
建模RFI的第一步是识别电路设计中可能辐射噪声的区域。
这将帮助工程师规划出不应该放置接收器的位置。
这个模拟可以用万博Ansys SIwave以及电磁求解器的组合。
工程师还可以更深入地了解设备的电磁环境和端口到端口耦合使用万博Ansys基于．
从这里，工程师可以在时域中使用电路分析来描述无线电端口上的干扰信号。然后，他们可以使用输入/输出缓冲区信息规范(IBIS)模型量化噪声谱。
最后，工程师可以使用Ansys EMIT执行RF系统级模拟。万博这个模拟提供了一个去敏化度量来表征干扰。
通过结合所有这些信息，工程师可以分析和缓解与物联网和消费电子设计相关的无线电去敏化。
印刷电路板(PCB)的近场图。
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