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万博ANSYS的博客

2022年7月13日

电子产品中的热循环故障

每次设备开关时,其温度都会发生变化。(想想你的手机一天亮了多少次就知道了。)能量流经几层紧密堆叠的材料,使设备升温,然后迅速冷却。这种温度之间的反复振荡在一个设备的生命周期被称为热循环。

为什么热管理很重要

热循环,即设备在冷热状态下移动的过程,是导致电子产品故障的最大领域之一。如果发生热疲劳,设备内的多个系统可能会受到影响,导致翘曲、焊接薄弱、断裂或开裂——最终,如果不加以缓解,将导致整体产品故障。

由于如今电子产品无处不在,热循环引起的应变影响着各行各业的设备组件,例如:

  • 汽车
  • 航空航天和国防
  • 生物医学
  • 制造业
  • 消费品
电子设备故障的原因

图1:电子设备故障的原因。

是什么让组件对热循环敏感?

元件对热循环敏感的原因有几个,包括元件放置在电路板上的位置和元件的类型,例如四平无铅(QFN)封装、球栅阵列(bga)和陶瓷电容器。这些组件没有兼容的引线,因此只有焊料可用来吸收应变。

对于应变敏感元件,重要的是不要将它们放置在电路板上的高应变区域,例如:

  • 近安装孔
  • 较大的刚性元件(如电感器)之间或附近的区域
  • 在v形刻痕板边缘附近,v形刻痕的断裂可能会损坏零件

QFN放置示例

在图2中,QFN被放置在印刷电路板(PCB)上的两个大型电感器之间,有四个角。在热循环过程中,您可以看到出现的高应变区域(用红色和黄色表示)。将QFN放置在由此产生的高应变区域可能导致QFN的焊点失效。

四平无铅封装

图2:放置在印刷电路板(PCB)上的两个电感器之间的四平无铅(QFN)封装正在进行热分析。

电子器件中的焊料应变

焊接是在电路板上连接元件的最基本方法之一。就像金属热熔胶一样,焊料是熔化的,在变硬的过程中用来把碎片粘在一起。虽然振动或冲击可能导致焊料退化,但热循环是焊点失效的最常见原因。

每种材料都有独特的热膨胀系数(CTE),材料之间的热膨胀系数不匹配是导致焊料疲劳的主要原因。当焊料被拉伸时,组件和电路板之间的键会变形、破裂或断裂,从而导致故障风险。

热疲劳裂纹

图3:带有热疲劳裂纹的球栅阵列(BGA)球。

BGA球的应力

图4:由于热机械载荷,BGA球中的应力。

阅读我们的博客了解更多关于焊点失效的5大原因。

加速热循环寿命试验

电路板上的所有东西都不是纯电的。通常用于继电的分层材料深埋在电路板内部,无法从顶部或底部观察到。当电流通过它们时,它们会变大、收缩和变形。预测这些组件对热循环的反应对于精确的寿命测试至关重要。

理想情况下,为了防止热疲劳引起的故障,工程师应该在设计阶段减少热应力源。通过模拟,他们可以看到应力将发生在哪里,并在制作物理原型之前更改材料层和约束的数量、组件的位置和材料的下填充。

当使用模拟测试热机械可靠性风险时,重要的是使用具有有限元分析(FEA)或结构分析功能的软件。FEA是物理系统的数学表示,它使用网格将元素映射到模型上。网格划分技术对于精确的分析是非常重要的。

了解更多关于有限元网格划分。

设计经久耐用的电子产品

了解热机械可靠性风险是设计电子设备的关键步骤。温度循环是电子设备故障的主要原因之一,在设计设备时不考虑这种风险可能会导致现场意外的产品故障。使用仿真是工程师可以采取的重要的第一步,以消除冗长的设计周期和减少多次原型迭代。

通过观看此按需网络研讨会,了解有关组件级可靠性、板级可靠性和影响可靠性的系统级交互的更多信息:如何预测电子产品的热循环失效

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